各位真粉们,小薇又要和您见面啦。
今天我们开启Raman光谱产品应用系列第四辑:
SR900如何测试载流子浓度的呢?
如果记忆力比较好的真粉们,应该还记得我们在3月19号发布的SR900产品介绍中的载流子浓度测量原理与标准咯,欢迎移步3月19号的公众号推文,进行详情了解。
本期,我们直接拿案例说话。
第一个案例,4英寸SiC外延层载流子浓度测量。
图1. 载流子浓度分布与截线图
图2. 不同位置1和2的Raman光谱
结论:
通过声子与载流子耦合形成的特征峰位变化,可以定量计算n型GaN载流子浓度变化
适用GaN、SiC和AlGaN等多种六方晶系n型半导体材料
可测试的载流子浓度范围:1017-1020 cm-3 ,重复实验的标准偏差<5%
背景介绍:
相关检测方法国家标准
《GB/T_36705-2018_氮化镓衬底片载流子浓度的测试拉曼光谱法》(2018年9月17日发布,2019年6月1日实施)
第二个案例,我们来看看8英寸SiC拉曼载流子浓度分布,以及其与缺陷的关联。
图3. 8英寸SiC载流子浓度分布
结论:
拉曼载流子浓度异常区域与晶圆片肉眼可见异常区域重合,和穿透刃位错分布相关联。
以上两个案例,简单实惠,很清晰地表现了SR900是如何测试并且准确得到载流子浓度的。
希望这些信息对您有用哦。
小薇又要和您说再见啦,下期见!