应用领域 - 苏州惟光探真科技有限公司

材料辐照损伤研究的意义与原位光谱学方法的应用

各位朋友们，大家好。近日来，咨询我司地面空间辐照与原位光谱测量的朋友们越来多起来了，国内外对于新型材料与传统材料以及探测器如何应用在太空环境中，愈发关注和重视，特别是随着各国对于太空探索的愈发关注，这一研究热点正受到科学家与各国政府的全力支持。

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材料辐照损伤研究中为什么要做原位光谱测量？

各位惟光探真的朋友们好，本期是材料辐照损伤研究的意义与原位光谱学方法的应用系列文章的第二辑：材料辐照损伤研究中为什么要做原位光谱测量？

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Raman光谱产品应用系列第九辑
SR900长期稳定性测试数据分享

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Raman光谱产品应用系列第九辑
SR900长期稳定性测试数据分享

各位朋友们，大家好。在前面的八辑与公众号其他内容中，我们分享了SR900全功能型共聚焦Raman光谱系统在很多不同材料应力测试上的应用。例如，第三代半导体材料与晶圆SiC，GaN以及AlN（我司与纳米所用户合作发表的文章，可以翻阅此前的公众号内容）第二代半导体材料与晶圆GaAs和InP上Si基芯片应力测试还包括碳纤维复合材料CFRP，但是限于保密关系无法分享。

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Raman光谱产品应用系列第八辑
SR900在Si基芯片应力测试上的应用

在前面的七辑中，我们分别分享了SR900全功能型共聚焦Raman光谱系统在第三代半导体材料与晶圆SiC，GaN以及AlN（我司与纳米所用户合作发表的文章，可以翻阅此前的公众号内容），以及在第二代半导体材料与晶圆GaAs和InP上的应用，那么在本期，我们就和您分享：Raman光谱产品应用系列第八辑，SR900在Si基芯片应力测试上的应用。

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宽场荧光显微镜应用第一辑点缺陷测量的技巧
兼论宽场荧光显微镜在点缺陷测量中的重要作用

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Raman光谱产品应用系列第七辑
SR900在InP测试上的应用

各位好，在第六辑里面，我们分享了同属第二代半导体材料的GaAs材料与晶圆的Raman测试应力的情况。在第六辑，我们也介绍了另外一种材料InP，那么在本期，Raman光谱产品应用系列第七辑，我怕们就要介绍SR900共聚焦Raman光谱系统在InP应力测试上的应用。首先，我们来翻看一些文献，看看过往的测试情况，以便作为参考。如图1可以看到：原始半绝缘InP表面仅有LO峰，但是随着Si离子注入逐渐增加，TO峰逐渐增强，LO峰向低波数移动，二阶峰逐渐消失。

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InGaN材料的辐照损伤机理及光谱学研究

各位好，本期是我们材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第三辑：InGaN材料的辐照损伤机理及光谱学研究。在本期中，我们将会在基于目前发表的公开文献为基础，介绍InGaN的辐照损失机理和原位光谱测试。

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a-SiO2的辐照损伤与光谱学表征

各位好，本期是我们材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第四辑：a-SiO2的辐照损伤机理及光谱学研究。在本期中，我们将会在基于目前发表的公开文献为基础，介绍a-SiO2的辐照损失机理和原位光谱测试。

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