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苏州惟光探真科技有限公司
半导体光学检测系统
DUVOE900 深紫外光电流测试系统

近年来,宽禁带半导体材料已日趋成为日盲紫外光电探测领域的研究热点。目前,已经有各种各样的宽禁带半导体材料被用于制作日盲光电探测器,如铝镓氮(AlxGa1-xN)、氧锌镁(ZnxMg1-xO)、氧化镓(Ga2O3)和金刚石(Diamond)等。氧化镓作为继GaN和SiC之后的超宽禁带半导体材料,能够满足高效、低能耗、高频和高温等高性能应用的需求,在高压电力控制、射频通信、日盲探测、恶劣环境信号处理等方面有着广阔的应用前景。

DUVOE900深紫外光电流测试系统是专门针对由超宽禁带半导体材料制作的光电探测器进行响应度,外量子效率,光谱范围,光/暗电流,光谱抑制比(SRR)等性能参数进行表征的重要工具之一。

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产品概述

DUVOE900 深紫外光电流测试系统通过193nm的脉冲激光器或者等离子体光源+单色仪的连续193nm光源,对器件的光电流响应进行测量,测量速度4KHz,同时通过标准探测器对激光强度波动进行测量,对结果进行校正。需要在聚焦和非聚集的两种情况下测量:聚焦时,光斑聚焦到0.5mm以下,Mapping小范围测量探测器的不均匀性;不聚焦时,通过光阑控制高斯光束的束宽,测量器件不同区域的响应度。


光路设计示意图

图 1 光路结构示意图
主要性能特点:
采用200nm以下激光激发样品,其它波长可选;
显微成像和光电流两种模式自动切换;
插槽式光路设计,可扩展升级深紫外PL测试;
具有自动对焦功能,保证实时聚焦;
内置标准探测器,用于对测试结果进行补偿;
可在聚焦和非聚集两种情况下进行测量。

电学设计
1) 待测器件未集成前置电流放大器
稳态光源测试模式:
稳态光源(等离子体光源+单色仪)照射下,标准探测器和待测样品直接接偏压,通过双通道源表同时获取光电流随时间的变化。
脉冲光源测试模式:
脉冲电学测试:脉冲激光照射下,标准探测器和待测样品接跨导放大器,将光电流转化为电压,通过多通道示波器同时获取标探和待测样品的电压随时间的变化。此时偏压固定,由放大器提供偏压。
2)待测器件集成前置电流放大器
示波器测试模式:
脉冲激光或稳态光源照射下,标准探测器接跨导放大器将光电流转为电压,待测样品必要时接10-100倍的电压放大器,通过多通道示波器同时获取标探和待测样品的电压随时间的变化。
源表测试模式:
脉冲激光或稳态光源照射下,标准探测器接跨导放大器将光电流转为电压,待测样品必要时接10-100倍的电压放大器,通过源表(做双通道电压表使用)同时获取标探和待测样品的电压随时间的变化。

技术规格

名称

规格

显微镜模组

紫外消色差透镜组:5X,数值孔径0.25, 工作距离35mm,波长范围200-700 nm,聚焦紫外光斑直径约10微米。主要应用于193 nm的紫外光聚焦

紫外相机:分辨率1920x1080,20倍下视野范围0.42x0.24 mm,响应范围190-900 nm

紫外显微成像光路:可获得紫外激光光斑和样品表面的显微图像;可在光电流模式和成像模式(对样品表面进行聚焦和寻区)之间切换

标准探测器光路:通过激光采样镜和聚焦镜到标准探测器(本模块报价不含标准探测器),对激光能量波动进行检测,采样频率>4KHz,用于补偿光电流测试的结果

物镜转塔:可调物镜中心的物镜转塔,保持不同位置的物镜中轴对齐

XYZ平移台

XY移动范围 >50 mm

Z移动范围 20 mm

最小步长1um

重复定位精度±1um

带倾斜校正台

耦合光路模组和激光切换

电动激光衰减镜:衰减从0到OD4(10-4),步长为OD2.2x10-4。即每步减少前一步光强的约万分之2.2

手动光阑:两组刀片垂直放置,形成正交的狭缝,构成一个方形狭缝约束,狭缝高和宽调节范围0-20mm,最小读数为0.01mm

激光切换和转折镜均采用高功率阈值紫外反射镜,适配190-400 nm(R>85%),400-700(R>80%)

适配氙灯和单色仪的光纤出口,经过深紫外透镜组准直后,到达物镜

光源

 

准分子激光器,波长:193nm

标准脉冲能量 :5mj

最大脉冲能量:12mj

最大重频:200Hz

激光等离子体光源

数据采集

脉冲激光照射下,标准探测器和待测样品接跨导放大器,将光电流转化为电压,通过多通道示波器同时获取标探和待测样品的电压随时间的变化。
此时偏压固定,由放大器提供偏压。是一个1GHZ采样频率的的示波器。

双通道源表

锁相放大器及斩波器

跨导放大器(电流转电压)

电压放大器

示波器,带宽1GHz

暗箱

对光电流部分进行遮光

对外部电学干扰起到屏蔽作用

软件

1.提供样品表面和光斑的显微图像。

2.辅助样品倾斜校正

3.辅助样品图案的对准.

4.可控制调节氙灯光源中心波长,可按规定精度步进;

5.开始采集后,通过源表或示波器自动采集数据并通过标准探测器修正数值,自动计算并处理数据,可导出txt/excel等格式;

6.控制平移台按指定范围进行小范围的区域Mapping,可指定扫描区域和点间距。


测试案例
PD探测器,测试条件:193nm脉冲光源
图1 显微成像和光斑对准,探测器表面成像可精确确定照射位置
图2 电动光阑控制光斑大小从0.1mm到3mm
图3 衰减片控制能量密度从0.1到0.001mJ/cm2
图4 探测器瞬态光电流随激发功率的变化
图5 探测器光电流信号Mapping—测试器件一致性或探测面的均匀性
智能化软件平台和模块化设计
统一的软件平台和模块化设计
良好的适配不同的硬件设备:平移台、显微成像装置、光谱采集设备、自动聚焦装置等
成熟的功能化模块:晶圆定位、光谱采集、扫描成像Mapping、3D层析,Raman Mapping,FLIM,PL Mapping,光电流Mapping等。
智能化的数据处理模组:与数据拟合、机器学习、人工智能等结合的在线或离线数据处理模组,将光谱解析为成分、元素的分布等,为客户提供直观的结果。可根据客户需求定制光谱数据解析的流程和模组
可根据客户需求进行定制化的界面设计和定制化的RECIPE流程设计,实现复杂的采集和数据处理功能。

控制软件界面:
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