低维材料 - 苏州惟光探真科技有限公司

用户速递第三辑
光电流成像技术成为揭示WTe2自限氧化层（SLO）光电调控机制的核心手段

各位惟光探真的朋友们好，在用户速递的第一辑与第二辑，我们分别分享了我司的SR900共聚焦Raman光谱系统在AlN薄膜应力测试上的应用，以及SF900稳态与瞬态荧光系统在MicroLED像素上的FLIM数据。

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Raman光谱产品应用系列第五辑
SR900在碳纳米管上的应用

各位朋友们大家好，本期与大家分享Raman光谱产品应用系列第五辑 SR900在碳纳米管上的应用。在前面的四期中（请关注惟光探真公众号在3-4月份的发布内容），我们分别分享了SR900共聚焦大面积RamanMapping测试系统在SiC晶圆，硅基GaN MicroLED晶圆测试上的应力，分别对应于应力和载流子浓度的测量。本期为第五期，我们拿出一小部分已知数据，分享SR900在CNT上的应用我们知道，对于碳管的测试来说，主要是测试其中的G峰，D峰以及呼吸峰RBM，然后计算D峰与G峰的比值，评估其缺陷密度；同时利用呼吸峰来计算碳管的直径。

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