深紫外光致发光系统应用系列第六辑<br>掺Si的AlN薄膜PL与TRPL测试

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深紫外光致发光系统应用系列第六辑
掺Si的AlN薄膜PL与TRPL测试

2025-09-24

各位朋友大家好。

本期是深紫外光致发光系统应用系列第六辑，在本期我们分享的是：掺Si的AlN薄膜PL与TRPL测试。

直接上数据。

图1. 掺Si的AlN测试谱线原始图

图2. 拟合分析得到的双峰：208.7nm和211.9nm

图3. 368nm缺陷峰寿命原始图

图4. 368nm的三个寿命组分：11.0ns，240ns，2796ns

以上就是全部的测试数据啦。

欢迎大家交流。

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AlN薄膜的PL与TRPL测试

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