半导体材料与晶圆 - 苏州惟光探真科技有限公司

深紫外光致发光系统应用系列第二辑
HVPE生长AlN的带边发光和缺陷发光

各位朋友们，大家好。本期为深紫外光致发光系统应用系列第二辑 HVPE生长AlN的带边发光和缺陷发光。话不多说，直接上菜（数据）吧！

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深紫外光致发光系统应用系列第一辑
深紫外光致发光系统与架构

各位朋友们，大家好，在今年的4月份，我们在公众号发布了我司出货给深圳某客户的195nm飞秒激光器激发的光致发光系统案例，得到了很多用户的支持和关注，转发量与点击率都创造了当时的新高。

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深紫外光致发光系统应用系列第一辑
深紫外光致发光系统与架构

各位朋友们，大家好，在今年的4月份，我们在公众号发布了我司出货给深圳某客户的195nm飞秒激光器激发的光致发光系统案例，得到了很多用户的支持和关注，转发量与点击率都创造了当时的新高。

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深紫外光致发光系统应用系列第二辑
AlN的带边发光和缺陷发光光谱

本期为深紫外光致发光系统应用系列第二辑 AlN的带边发光和缺陷发光。在此之前，得到AlN的带边发光是业界公认的难题，文献报道也多是极低温甚至液氦温度下的发光数据。而我们的设备创新性地引入侧光路接收和优化光路结构后，我们对客户提供的几乎所有的AlN样品都得到了室温下的带边发光，彻底攻克了这一难题，有望成为第四代半导体材料质量和机理研究的利器。话不多说，请各位坐稳了，一大波数据来袭！

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Raman光谱产品应用系列第七辑
SR900在InP测试上的应用

各位好，在第六辑里面，我们分享了同属第二代半导体材料的GaAs材料与晶圆的Raman测试应力的情况。在第六辑，我们也介绍了另外一种材料InP，那么在本期，Raman光谱产品应用系列第七辑，我怕们就要介绍SR900共聚焦Raman光谱系统在InP应力测试上的应用。

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Raman光谱产品应用系列第六辑
SR900在GaAs材料与晶圆测试上的应用

各位朋友们，大家好。本期与大家分享的是我司Raman光谱产品应用系列的第六辑：SR900显微共聚焦Raman光谱系统在GaAs材料与晶圆上的应用。

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宽场荧光显微镜应用第一辑点缺陷测量的技巧
兼论宽场荧光显微镜在点缺陷测量中的重要作用

各位好，在4月份的时候，为大家介绍了我司的宽场荧光显微镜。那么宽场荧光显微镜都有哪些用途呢？最近刚好有一些用户咨询我司色心以及辐照后的点缺陷测量，那么今天，就基于我司的经验和大家分享一下宽场荧光显微镜在点缺陷测量中的重要作用。

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Raman光谱产品应用系列第九辑
SR900长期稳定性测试数据分享

各位朋友们，大家好。在前面的八辑与公众号其他内容中，我们分享了SR900全功能型共聚焦Raman光谱系统在很多不同材料应力测试上的应用。例如，第三代半导体材料与晶圆SiC，GaN以及AlN（我司与纳米所用户合作发表的文章，可以翻阅此前的公众号内容）第二代半导体材料与晶圆GaAs和InP上Si基芯片应力测试还包括碳纤维复合材料CFRP，但是限于保密关系无法分享。

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宽场荧光显微镜应用第一辑点缺陷测量的技巧
兼论宽场荧光显微镜在点缺陷测量中的重要作用

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