产品应用 - 苏州惟光探真科技有限公司

用户速递第一辑

2024年3月，苏州惟光探真科技有限公司的刘争晖研究员与中科院苏州纳米所的范世钊研究员在JAP（Journal of Applied Physics）杂志上联合发表了题为Polarity control and crystalline quality improvement of AlN thin films grown on Si(111) substrates by molecular beam epitaxy的相关文章，在本篇文章中，范世钊研究员使用了苏州惟光探真的SR900 Raman光谱测试系统（初代型号为R1）对采用等离子体辅助MBE生长的N记性与Al极性硅基AlN薄膜，通过Raman光谱的方法进行应力测量，相关数据在文章中有所呈现。

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用户速递第二辑

各位真粉们，大家好啊。本期小薇带您进入我司研发团队与用户一起发表的文献与应用第二辑：MicroLED中载流子寿命随光激发功率密度的变化。本文由苏州惟光探真科技有限公司总经理刘争晖的学生中国科技大学王双兰作为第一作者，与复旦大学田朋飞教授合力完成，研发团队其他成员徐耿钊博士，张春玉等亦有参与和协助。目前在必创科技投资与创新中心担任副总经理的董磊担任其企业导师。

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