各位朋友们，大家好。

在前面的八辑与公众号其他内容中，我们分享了SR900全功能型共聚焦Raman光谱系统在很多不同材料应力测试上的应用。

例如，

第三代半导体材料与晶圆SiC，GaN以及AlN（我司与纳米所用户合作发表的文章，可以翻阅此前的公众号内容）

第二代半导体材料与晶圆GaAs和InP上

Si基芯片应力测试

还包括碳纤维复合材料CFRP，但是限于保密关系无法分享。

那么这些所有的测试，重复性，长期稳定性都非常关键，这也是最考验研发功底与迭代能力之处，很多的改进都会着眼于细节，我司核心人员从业经历接近20年，见过了太多的设备，由于长期稳定性与重复性无法得到保证，今天测试与半个月后测试甚至于一周内的测试数据都会有漂移，因此数据的信度无法得到彻底的保障。

因此在本期，我司也斗胆分享我司的第二代SR900长期稳定性测试数据，供大家批评指教。

如大家所知道的，之前的数据测试，部分是基于我司第一代SR900测试的数据，部分是基于我司第二代SR900得到的数据，在SR900不断迭代进阶的过程中，长期稳定性，重复性等都不断得到提高并且用于接受用户更大的挑战。

目前我司的SR900已经迭代到第三代，达到了更高的稳定性与重复性以及信噪比。

本期的数据，主要是基于第二代SR900获取的，仅供参考。

我司分别在2天内，选择了不同的8小时进行长期测试。

首先我们采用标准硅样品进行长期稳定性测试。

测试参数如下：

激光：532nm

物镜：100X

扫描范围： 50*50 μm

扫描点数：10*10

光谱仪：国产光谱仪，1800 gr/mm光栅，100μm狭缝

同区域每隔半小时左右测试一次

自动对焦打开

测试时间段：2025年5月13日13:45-22:00，10个小时左右。

数据处理方法：

每个数据对硅一阶峰进行高斯-洛伦兹拟合（拟合区间400-600cm-1），导出100个数据点的峰高和峰位值，并统计其平均值

我们得到了如下的数据并且进行了分析。

得到的数据如图1和表1所示。

表1. 长期稳定性测试数据

图1. 第二代SR900-8小时长期稳定性测试（Si标样）

随后，我们在第二天，又采用SiC进行了相关测试。

测试参数：

激光：532nm

物镜：100X

扫描范围： 50*50 μm

扫描点数：10*10

光谱仪：国产光谱仪，1800 gr/mm光栅，100μm狭缝

同区域每隔半小时左右测试一次

自动对焦打开

测试时间段：2025年5月14日18:50- 2025年5月15日02:50，8个小时。

数据处理方法：

每个数据对碳化硅785cm-1峰进行高斯-洛伦兹拟合（拟合区间700-900cm-1），导出100个数据点的峰高和峰位值，并统计其平均值

我们得到了如下的数据并且进行了分析。

得到的数据如图2和表2所示。

表2. 长期稳定性数据

图2. 第二代SR900-8小时长期稳定性测试（SiC）

当然，其实我们的测试不止于此，还有很多的数据，限于篇幅的关系，无法一一和您进行分享，如果您有需要，可以拿着样品进行测试，相信我们的设备经得起您的考验与考察。

以上就是我们要分享的几个月前测试的第二代SR900长期稳定性数据啦。

当然，其实现在我们要交付的设备已经是第三代的版本了，本着销售一代，研发一代，预研一代的目标和步骤，我们在不断前进。

后续有更新的数据，再和各位分享啦。