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荧光光谱产品应用第五辑 | SF900在AsGa晶圆上的应用
2026-02-24

各位好，本期和您分享SF900晶圆级荧光应用的第五辑：AsGa晶圆的PL测试。

测试条件如下：

样品：GaAs

扫描设置：

对样品进行范围Mapping测试PL

激光功率：24mW（532激光）

测试范围、积分时间依据具体情况而定

切边朝下放置

GaAs刻字面朝上，GaAs样品运输过程中碎裂，对有刻字面的部分进行测试

图1. AsGa样品的532nmPL测试结果

图2. AsGa的730.7nmPL峰测试

图3. AsGa的813.7nmPL峰测试

图4. AsGa的842.7nmPL峰测试


接下来，我们进行一系列的探讨。

图5. PL探索

图6. PL探索

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