各位好，近日，苏州惟光探真SR900半导体晶圆级应力与载流子浓度测试系统与SF900半导体晶圆级缺陷与少子寿命测试系统中标某国内头部MicroLED研发与制造企业！

本套综合性测量系统，从2024年6月份开始测样，历经十余次的测试、对结果反复沟通，对技术不断优化和对软硬件不断迭代，终于获得了用户的最终认可，非常不容易。

本次的竞争中，来自于日本，韩国与德国等主流的PL与Raman企业都参与其中，但是并不能得到完全让用户满意的结果，我司凭借着技术优势，在与进口品牌价格差异很小的情况下成功中标，得到了客户的最终认可与垂青，成功实现了完全凭借技术优势下的国产替代！

本系统，依然采用惟光探真所独有的并联式插槽光路设计，把用户所需要的功能

大面积扫描的自动对焦显微镜

375nm激发下的PL光谱Mapping

532nm激发下的Raman光谱2D与3DMapping

一次性集成到一起。

当然本套系统，还可以升级到FLIM也就是大面积荧光寿命Mapping，进行例如少子寿命测量，以及其他波长的PLMapping与RamanMappping。

同时，本套系统所要求的高稳定性RamanMapping与PLMapping技术，还可以很成功的应用于诸如生物Raman，药物Raman，新材料Raman与PL和荧光寿命测量等诸多领域。

本套系统，按照本司的企业文化，在6-7月份给用户交付的时候，给到的是我司最新迭代的自动对焦显微镜，最新设计的更高稳定性的光路系统，远超当时投标时候的指标。

同时，我司也会在苏州本地留下一台同版本样机，继续迭代优化，不断把优化好的细节与技术给用户免费升级使用。

图1. 插槽式并联光路

（从左到右依次是：自动对焦显微镜/PL/Raman，向右侧可依次进行扩展）

图2. 我司应用工程师邓工测样中