近日，第二十三届全国光散射学术会议在热烈的学术氛围中圆满落下帷幕。本次盛会汇聚了国内光散射领域的众多高校科研工作者、专家学者与行业精英，共同探讨前沿动态，分享最新成果。作为本次学术盛会的焦点之一，惟光探真凭借深厚的学术积淀与卓越的创新实力，在学术与产品双轨道上赢得了与会者的广泛赞誉与认可。

在备受瞩目的学术报告环节，惟光探真的总经理刘争晖博士在会议上发表了题为《晶圆级与超宽禁带半导体光电测试与解决方案》的精彩报告。报告围绕晶圆级半导体测试与超宽禁带半导体测试，以“硬件创新+软件赋能+场景适配”的三维技术体系为核心，系统呈现了惟光在半导体检测领域的创新成果和应用案例，既填补了学术研究空白，又精准匹配了产业刚需，成为本次会议的亮点之一。此外，我司展位也吸引了众多与会者前来交流。

此次参会，不仅是惟光探真展示技术实力与产品创新的重要窗口，更是与行业同仁深化交流、凝聚共识的宝贵契机。未来，惟光探真将持续深耕光散射领域，以学术创新为引领，以产品升级为核心，不断突破技术瓶颈，为行业发展提供更优质的技术支持与产品服务，助力光散射领域实现更高质量的创新发展。