应用领域 - 苏州惟光探真科技有限公司

Raman 光谱在 GaAs 与 InP 材料与晶圆表征中的应用

各位朋友好，大家好。在上一期，我们针对于GaAs与InP的光谱测试进行了综述性的介绍。在本期，开始我们GaAs与InP光谱测试系列的第二辑：Raman 光谱在 GaAs 与 InP 材料与晶圆表征中的应用。在本期中，我们会和大家分享Raman如何用于GaAs与InP测试以及相关的意义。

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拉曼光谱技术在晶圆级碳纳米管测试中的重要性

各位好，从本期开始，我们开始进入晶圆级碳纳米管的相关测试与应用相关专题。本专题一共分为四部分，分别是：1．拉曼光谱技术在晶圆级碳纳米管测试中的重要性2．荧光光谱技术在晶圆级碳纳米管测试中的重要性3．辐照损伤对晶圆级碳纳米管的影响及其光谱检测方法4．晶圆级碳纳米管的未来应用展望与挑战

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GaAs 与 InP 材料与晶圆的光谱测试技术研究进展

各位朋友们，大家好。因为过往有经常咨询我们设备用于GaAs以及InP材料与晶圆的检测，例如Raman测试应力，PL与TRPL测试等。目前我司也具备了如下的功能：532nm测试RamanMapping405nm测试TRPLMapping375nm与532nm测试PLMapping532nm激发下的NIR波段PL测试欢迎各位来咨询与免费测样。

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深紫外光致发光系统应用系列第八辑
AlGaN的变温PL测试

各位朋友们，大家好。前面的七期，我们分享的是AlN的相关测试结果。作为深紫外光致发光系统应用系列的第八辑，我们和大家分享AlGaN的变温PL测试，其中Al的组分是70%。

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深紫外光致发光系统应用系列第七辑
AlN-PL测试总结+CL测试对比+不同激发功率对比

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深紫外光致发光系统应用系列第六辑
掺Si的AlN薄膜PL与TRPL测试

各位朋友大家好。本期是深紫外光致发光系统应用系列第六辑，在本期我们分享的是：掺Si的AlN薄膜PL与TRPL测试。直接上数据。

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深紫外光致发光系统应用系列第五辑
AlN薄膜的PL与TRPL测试

各位朋友们，大家好。深紫外激发下的AlN薄膜PL和TRPL测试，我们连续分享了四期，大家是否会有些视觉疲劳呢，相信爱科学的光粉们是不会哒！本期，小薇再和大家分享一些更有意思的数据啦：AlN薄膜的PL与TRPL测试。

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深紫外光致发光系统应用系列第四辑
AlN带边峰单峰与缺陷峰的常温测试

各位朋友们，大家好。在之前三辑的分享中，大家看到了HPVE生长的AlN与室温下的AlN测试结果，所得到的带边峰基本都是双峰，本期我们分享另外一个比较有趣的结果，供大家赏析。

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深紫外光致发光系统应用系列第三辑
AlN带边峰与缺陷峰的常温测试

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