惟是有光 格物探真
136-0173-6157
首页
产品与服务
拉曼光谱和成像
LRS900全功能型 共聚焦Raman光谱系统
LRS900-Life生物医学共聚焦Raman成像显微镜
荧光光谱
FST900全功能型显微稳态与瞬态荧光光谱成像系统
半导体光学检测系统
SR900半导体晶圆应力&载流子浓度测试系统
SF900半导体晶圆缺陷与少子寿命测试系统
DUVL900 超宽禁带半导体深紫外激发荧光测试系统
DUVOE900 深紫外光电流测试系统
多维度光谱测试系统
LPM900系列光电综合光学测试系统
LOE900光束诱导光电流扫描成像系统
元素分析
LIBS-E900 实验室版LIBS分析系统
LIBS-OL900工业在线LIBS分析系统
LIBS-R900 科研版LIBS分析系统
LIBS-Multi900多模组LIBS综合测试系统
原位与真空
真空互联原位光谱测试工作站
InSitu900原位光谱测试探头与系统
空间环境地面模拟与原位光谱测试工作站
自动对焦
宽场荧光显微镜
自动对焦显微镜
软件与数据分析
智能化软件平台和模块化设计
VisualSpectra光谱图像数据处理软件
应用领域
低维材料
Raman应力测试
半导体材料与晶圆
生物医药
MicroLED
原位与真空光谱
元素分析
软件与数据分析
关于我们
公司简介
创始人
企业理念
发展历程
企业荣誉
加入我们
人才理念
福利体系
公司环境
招聘岗位
新闻中心
联系我们
联系方式
在线留言
中
EN
惟是有光
格物探真
首页
产品与服务
拉曼光谱和成像
荧光光谱
半导体光学检测系统
多维度光谱测试系统
元素分析
原位与真空
自动对焦
软件与数据分析
应用领域
低维材料
Raman应力测试
半导体材料与晶圆
生物医药
MicroLED
原位与真空光谱
元素分析
软件与数据分析
关于我们
公司简介
创始人
企业理念
发展历程
企业荣誉
加入我们
人才理念
福利体系
公司环境
招聘岗位
新闻中心
联系我们
联系方式
在线留言
application
应用领域
低维材料
Raman应力测试
半导体材料与晶圆
生物医药
MicroLED
原位与真空光谱
元素分析
软件与数据分析
首页
>
应用领域
>
钙钛矿材料的辐照损伤与光谱学研究
各位好,本期是我们 材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第五辑:钙钛矿的辐照损伤机理及光谱学研究。在本期中,我们将会在基于目前发表的公开文献为基础,介绍钙钛矿的辐照损失机理和原位光谱测试。
探索更多
SiC材料的辐照损伤及光谱学分析
各位好,本期是我们 材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第六辑:SiC的辐照损伤机理及光谱学研究。在本期中,我们将会在基于目前发表的公开文献为基础,介绍SiC的辐照损失机理和原位光谱测试。
探索更多
GaN材料的辐照损伤与光谱学研究
各位好,本期是我们 材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第七辑:GaN的辐照损伤机理及光谱学研究。在本期中,我们将会在基于目前发表的公开文献为基础,介绍GaN的辐照损失机理和原位光谱测试。
探索更多
玻璃材料的辐照损伤与光谱学研究
各位好,本期是我们 材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第八辑:玻璃的辐照损伤机理及光谱学研究。在本期中,我们将会在基于目前发表的公开文献为基础,介绍玻璃的辐照损失机理和原位光谱测试。
探索更多
碳纳米管的辐照损伤与光谱学研究
各位好,本期是我们 材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第九辑:碳纳米管的辐照损伤机理及光谱学研究。在本期中,我们将会在基于目前发表的公开文献为基础,介绍碳纳米管的辐照损伤机理和原位光谱测试。
探索更多
碳纤维的辐照损伤机理研究与原位光谱测试
各位好,本期是我们 材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第十辑:碳纤维的辐照损伤机理研究与原位光谱学研究。在本期中,我们将会在基于目前发表的公开文献为基础,介绍碳纤维的辐照损伤机理研究和原位光谱测试。
探索更多
ZnO的辐照损伤机理研究与原位光谱测试
各位好,本期是我们 材料与器件辐照损伤研究的意义与光谱学方法的应用系列文章的第十一辑:ZnO的辐照损伤机理研究与原位光谱学研究。在本期中,我们将会在基于目前发表的公开文献为基础,介绍ZnO的辐照损伤机理研究和原位光谱测试。
探索更多
MicroLED芯片与晶圆的PL和Raman测试表征技术深探第六辑|PL-Raman联用在MicroLED研发中的创新应用和产业价值
各位朋友们,大家好。今天小薇继续分享MicroLED芯片与晶圆的PL和Raman测试表征技术:PL-Raman联用在MicroLED研发中的创新应用和产业价值。这也是近期我们对MicroLED芯片与晶圆表征技术解析系列的最后一辑。
探索更多
MicroLED芯片与晶圆的PL和Raman测试表征技术深探第五辑 | Raman测试在MicroLED全工艺链中的应用图谱
各位朋友们,大家好。前面我们已经详细分析了PL测试在MicroLED全工艺链中的应用,而Raman测试和PL测试在MicroLED芯片与晶圆测试领域具有同样重要的作用,所以今天我们也把Raman测试单列出来,详细分析其在MicroLED全工艺链中的应用。
探索更多
«
1
2
3
4
5
6
»
产品与服务
拉曼光谱和成像
荧光光谱
半导体光学检测系统
多维度光谱测试系统
元素分析
原位与真空
自动对焦
软件与数据分析
应用领域
低维材料
Raman应力测试
半导体材料与晶圆
生物医药
MicroLED
原位与真空光谱
元素分析
软件与数据分析
关于我们
公司简介
创始人
企业理念
发展历程
企业荣誉
加入我们
人才理念
福利体系
公司环境
招聘岗位
新闻中心
联系我们
联系方式
在线留言
版权所有 Copyright © 苏州惟光探真科技有限公司 版权所有
网站建设
备案号:
苏ICP备2025157184号-1
法律声明
/
隐私政策
/